http://www.debsol.com/AboutBS01.html
バウンダリスキャンテストは、１９８５年にヨーロッパのＪＥＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）によって最初に提案されました。さらに１９８６年に米国企業のメンバが加わり、１９９０年に規格化されたのがＩＥＥＥ ｓｔｄ １１４９．１−１９９０ Ｓｔａｎｄａｒｄ Ｔｅｓｔ Ａｃｃｅｓｓ Ｐｏｒｔ ａｎｄ Ｂｏｕｎｄａｒｙ−Ｓｃａｎ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅです。この規格は、正式名称よりも、その作業グループの名称であるＪＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）が、規格名称であるかのように使われていますが、ＪＴＡＧはあくまで作業グループの名称です。
バウンダリスキャンデバイスは外部Ｉ／Ｏピンと内部論理との間にバウンダリスキャンセルが配置されＴＤｉピンからの信号とシフトレジスタを構成しており、適当なデータを入力することでバウンダリスキャンセルに接続された任意の出力ピンからデータを出力したり、入力ピンの状態をモニタすることが可能です。
